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电子工业设备 |
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HP4145A半导体参数测试仪
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| 产品型号：HP4145A |
HP4145A半导体参数测试仪可以快速的对半导体器件和材料进行直流参数测试。特性如下：
1、半导体器件全自动、高速直流测试；
2、具有高分辨率、宽测量范围：I: 1pA - 100mA, V: 1mV - 100V ；
3、最大分辨率1150；
4、内置微型软盘，可存储240个用户程序或105个测试结果。
南京奥威主要从事PCM测试相关软件的开发和工艺线系统集成，公司同时可为客户提供EG1034/2001/2010，WENTWORTH MP2020等探针台，HP/Agilent公司的HP4062UX/HP4142B/HP4145A/HP4145B/HP4084/HP4085/HP4275A/HP4280/HP8772 测试仪和Keithley公司S900A/S280/S350测试仪，STS 310/PTI 790/Oxford 80 等离子体增强化学气相淀积设备，STS 320/ PTI 790/PTI 730/xford100反应离子刻蚀设备和STS ICP/ PTI ICP/ Oxford ICP电感耦合等离子体刻蚀等各类进口半导体仪器、设备及备品备件、软件升级开发和相关售后服务工作。公司一贯以高质量的产品、优质的服务、合理的价格来满足各类客户需求。 |
| 参考价格：优价供应 |
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| 以上信息由厂家发布，未经本网站证实。 |
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| 网址： |
http://www.allwin21.com
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电话：86-020-85548717 |
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中国·广东·广东省广州市天河区棠下195号 邮编510655 |
传真：86-020-85548717
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| 联系： | Peter Chen 先生
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